مدل‌های تصمیم‌گیری ساختاریافته برای تشخیص عیب با دو تصویر مرجع بررسی شدند

در بازرسی صنعتی، آموزش مدل‌های بینایی معمولاً به هزاران تصویر از محصولات سالم و معیوب نیاز دارد. پژوهش‌های اخیر نشان داده‌اند مدل‌هایی مانند CLIP می‌توانند این نیاز را به ۵۰ تا ۱۰۰ تصویر برای هر کلاس کاهش دهند؛ اما حتی تهیهٔ ۵۰ تصویر معیوب هم در خطوط تولید پربازده یا کم‌حجم ممکن است دشوار باشد.

این پیش‌چاپ، کاربرد دو مدل تصمیم‌گیری ساختاریافتهٔ Jev و Clef-Flash را در سناریویی بررسی می‌کند که هنگام استنتاج، برای هر کلاس فقط دو تصویر مرجع در دسترس است. متن در دسترس به آغاز مشارکت‌های پژوهش اشاره می‌کند، اما جزئیات روش و نتایج را ارائه نمی‌دهد.